(微纳)干式强磁场综合测试系统
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设备型号 :
当前状态 :
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负责人 :张慧(微纳)
联系人 :陈璐 张金娥
放置地点 :通用平台(用户注册不要选择) > 二期芯片综合测试区
IP地址 : 48:3F:DA:6F:0E:F1
- 名称(微纳)干式强磁场综合测试系统
- 资产编号S2510692
- 型号
- 规格
- 产地中国
- 厂家
- 所属品牌
- 出产日期
- 购买日期
- 所属单位通用平台(用户注册不要选择)
- 使用性质科研
- 所属分类
- 联系人陈璐 张金娥
- 联系电话
- 联系邮箱huizh@buaa.edu.cn
- 放置地点二期芯片综合测试区
主要规格及技术指标
1.温度1.5K-400K,超导磁体磁场±90000Oe2.样品大小限制10mm*10mm,配有垂直和平面样品托,16pin电极接口,通道可切换。标准杆温度范围:1.5K-400K;旋转杆转角-10°-370°,温度范围:1.5K-325K
3.配备电流源、纳伏表、锁相放大器,可外接测试源表,支持Labview编程,可进行电学、温度综合测试



