(微纳)干式强磁场综合测试系统

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设备型号 :

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负责人 :张慧(微纳)

联系人 :陈璐 张金娥

放置地点 :通用平台(用户注册不要选择) > 二期芯片综合测试区

IP地址 : 48:3F:DA:6F:0E:F1

  • 名称(微纳)干式强磁场综合测试系统
  • 资产编号S2510692
  • 型号
  • 规格
  • 产地中国
  • 厂家
  • 所属品牌
  • 出产日期
  • 购买日期
  • 所属单位通用平台(用户注册不要选择)
  • 使用性质科研
  • 所属分类
  • 联系人陈璐 张金娥
  • 联系电话
  • 联系邮箱huizh@buaa.edu.cn
  • 放置地点二期芯片综合测试区

主要规格及技术指标

1.温度1.5K-400K,超导磁体磁场±90000Oe
2.样品大小限制10mm*10mm,配有垂直和平面样品托,16pin电极接口,通道可切换。标准杆温度范围:1.5K-400K;旋转杆转角-10°-370°,温度范围:1.5K-325K
3.配备电流源、纳伏表、锁相放大器,可外接测试源表,支持Labview编程,可进行电学、温度综合测试
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